Page 20 - No31

EGYKRISTÁLY RÖNTGENDIFFRAKCIÓ
Műszeres kémiai vizsgálatok

I(θ ) intenzitású foltokból áll. A
hkl
Bragg törvény adja meg, hogy
milyen szórásszögnél θ jelenik
hkl
meg a (hkl) reflexió a
diffraktogramon. A (hkl)
rácsparaméterek és a Θ hkl szórásszög
közti összefüggés:

A d rácssíktávolságok és a (hkl)
hkl
rácsparaméterek közti összefüggés
kristályosztályonként különböző
Például köbös rendszerben:

Az intenzitás az amplitúdó négyzete

2
ahol λ a hullámhossz, d a sikok közötti reciprok térrel kapcsolatos: a kristálynak I(θ )= |F(θ )| |F(θ )| = I
hkl
hkl
hkl
távolság, θ a Bragg-szög (1. ábra). A háromdimenziós, diszkrét Bragg
sugárzás behatol a kristályba. Párhuzamos reflexiókat mutató diffrakciós képe van. ahol |F(θ )| a szerkezeti-amplitúdó. (A
hkl
kristály síkokról való szórás esetén akkor Atomi méretekkel összevethető továbbiakban a Miller-indexekre, ahol
észlelünk maximumot, ha az útkülönbség hullámhosszú sugárzás áll tehát a lehet hkl=H, jelölést alkalmazzuk).
a hullámhossz egész-számú rendelkezésünkre ahhoz, hogy megfelelő
többszörösével egyenlő. Ilyenkor a nagyításban vizsgáljunk molekuláris A röntgensugárzás az atomi
párhuzamos síkokról diffraktált sugár rendszereket. Minden képalkotás két elektronfelhőn szóródik. A kristályokban
fázisa megegyezik: hullám-hegy hullám- lépésben történik: a sugárzás szórása az az elektronsűrűség az elemi transzlációk
heggyel találkozik, erősítés következik be. objektumról és a szórt sugárzás irányában folytonos és periodikus.
A röntgendiffraciós kísérletben a rekombinációja (fókuszálás). Az optikai Periodikus függvények egyszerű
diffrakciós kép (különböző intenzitású mikroszkópban a lencserendszer a trigonometrikus függvények (sin és cos)
foltok a képérzékelőn, pl. film) határozott rekombináció eszköze. A röntgensugárzás összegeként számíthatók ki (Fourier-
rendezettséget mutat. A kristályrács és azonban sem optikai eszközökkel, sem sorok). Az amplitúdók az elektronsűrűség
annak diffrakciós képe különleges pedig elektromágneses terekkel nem függvény Fourier-sorának koefficiensei. A
viszonyban állnak egymással. A szórás a fókuszálható, ezért atomi felbontású röntgendiffrakciós adatgyűjtést
kristály-, másképpen direkt tér síkjairól mikroszkópunkban a fókuszálás a napjainkban már nagymértékben
történik és a diffrakciós térben ezek krisztallográfus és számítógépének automatizált, magas műszaki színvonalú
pontokként jelennek meg. Tehát ami az feladata. berendezések (diffraktométerek)
egyik térben sík, a másik térben pont lesz, A röntgendiffrakciós szerkezet- támogatják. A térdetektorok egyszerre
és megfordítva. A direkt tér elemi meghatározás lépései leegyszerűsítve a nagyszámú intenzitást rögzítenek. A
cellájának (a,b,c,α, β, γ) a diffrakciós következők: 1. diffrakciós kísérlet (az mérésekhez 0,1-0,6 mm-es nagyságú
térben egy másik, a*,b*,c*,α*,β*,γ*, un. intenzitásadatok összegyűjtése), 2. a egykristály szükséges. Ha a kristály jól
reciprok cella felel meg (a diffrakciós tér szerkezet-meghatározása (kiindulási szór, akkor gyors pásztázással,
másik neve reciprok tér). A két cella koordináta adatok), 3. a szerkezet hagyományos sugárforrással, rövid idő
egymással reciprok viszonyban áll. finomítása, 4. értékelés. alatt elegendő adat gyűjthető ahhoz, hogy
Ortogonális kristályrácsokra (α=β=γ=90◦) 20-30 perc alatt a szerkezeti képlet
a*=1/a, b*=1/b, c*=1/c. A V térfogat AZ INTENZITÁSADATOK felírható legyen (az így nyert szerkezet
mindenkor V=1/V* (V*=1/V). Ennek az a ÖSSZEGYŰJTÉSE még pontatlan, de tükrözi az atomi
következménye, hogy nagy elemi cellák A diffrakciós kép a különböző (d ) konnektivitást. A kémikus
hkl
alkotta kristály diffrakciós képe igen rácssiktávolságok által meghatározott θ megtakaríthatja a hosszadalmas,
hkl
zsúfolt. A kristály modern definíciója a szórásszögeknél megjelenő különböző
20 KÉMIAI PANORÁMA 31. SZÁM, 2026. ÉVFOLYAM